Ваш регион:
^
Лента новостей
Разделы сайта
Все новости
Новости Поиск Темы
ОК
Применить фильтр
Вы можете фильтровать ленту,
выбирая только интересные
вам разделы.
Идёт загрузка

Сибирские ученые создали единицу измерения для нанотехнологий

30 апреля 2015, 12:43 UTC+3 НОВОСИБИРСК НОВОСИБИРСК 30, апреля. /ТАСС

Первоначально ученые занимались созданием идеально гладкой поверхности и учились контролировать перестройку атомов при внесении изменений в структуру какой-либо поверхности

Поделиться
Материал из 1 страницы
© ИТАР-ТАСС/Артем Геодакян

НОВОСИБИРСК, 30 апреля. /ТАСС/. Специалисты новосибирского Института физики полупроводников СО РАН создали стандарт измерения высоты поверхности, который может применяться для настройки и калибровки высокоточной аппаратуры, в том числе применяемой в сфере нанотехнологий, сообщил в четверг журналистам старший научный сотрудник института Сергей Косолобов.

"Для области нанотехнологий существование стандартов калибровки приборов, которые измеряют высоту или профиль поверхности, это очень важная задача. Их на данный момент в мире нет, таких стандартов. 90-100 нанометров есть, а все, что меньше, - нету. Мы создали такой эталонный объект, его сейчас регистрируют в государственном реестре средств измерений", - сказал Косолобов.

Он пояснил, что первоначально ученые занимались созданием идеально гладкой поверхности и учились контролировать перестройку атомов при внесении изменений в структуру какой-либо поверхности, например, образца кремния. Физикам удалось получить поверхности, которые не содержат на себе слоев атомов - "атомных ступеней".

"Зачем это нужно? Когда нам приносят биологи какой-то объект и говорят: "Мы хотим знать его форму", - мы должны положить его на какую-то подложку. Но если подложка сама имеет какую-то форму, мы будем мерить совокупность двух форм, и реальную трудно вычленить", - пояснил Косолобов.

Впоследствии, рассказал он, физики начали располагать на заданных местах поверхности от одной до нескольких сотен "атомных ступеней", что и привело к созданию нового стандарта измерений высоты. Этот стандарт уже используется производителями атомно-силовых и интерференционных микроскопов.

Показать еще
Поделиться
Новости smi2.ru
Новости smi2.ru
Загрузка...
Реклама
Новости партнеров
Реклама